采用集成設(shè)計電源模塊的解決方案

由于較新的應(yīng)用和系統(tǒng)往往具有多種電壓來為數(shù)字信號處理器（DSP），微控制器（μC），現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）和集成電路（ASIC）供電，因此現(xiàn)代電源設(shè)計能夠控制電源開關(guān)激活后這些電壓如何以及何時斜坡上升到終值。

在許多情況下，這些電源還需要能夠提升到負(fù)載中存在的預(yù)先存在的電壓。一些設(shè)計要求電源能夠在測試時或在特定時間修改其輸出，以測試系統(tǒng)在電壓，電流以及負(fù)載功率的壞情況變化的指定容差范圍內(nèi)的負(fù)載。

許多電源模塊設(shè)計人員已將這些解決方案集成到其產(chǎn)品中電源管理集成電路解決方案也可以將這些功能中的一個或多個集成到單個芯片中。

為了測試電源在電源電壓波動時的穩(wěn)健性，應(yīng)在壞情況下的電源電壓范圍內(nèi)動態(tài)測試負(fù)載電路 - 此功能定義為裕量。通常，此功能在電信，存儲，網(wǎng)絡(luò)和服務(wù)器設(shè)備的制造階段使用，以便可以評估這些系統(tǒng)的未來可靠性。

不同程度的裕度控制包括“通過/失敗”方法，其中功率輸出增加或減少±5％，±10％或一些其他選定的余量。有時需要更精細(xì)的調(diào)整方法，其中輸出電壓以較小的步長遞增或遞減，例如±10或±100 mV，以便更詳細(xì)地評估系統(tǒng)性能。

有時使用外部模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）來精確測量這些值，但當(dāng)然，ADC必須使用獨立的電源電壓供電，而不是邊緣電壓或ADC精度可能會受到影響。

在裕度調(diào)整期間，還必須禁用任何復(fù)位功能，以便系統(tǒng)可以繼續(xù)正常運行，否則系統(tǒng)可能會在裕量測試期間復(fù)位。電源模塊設(shè)計人員必須考慮所有這些問題。